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동축 사각 무영 복합 조명은 단일 카메라 및 렌즈 시스템으로 대상물의 상부와 측면을 동시에 검사할 수 있도록 설계된 복합 조명 장비입니다.

본 제품은 동축 광원(Coaxial Light)과 사각 무영광원(Diffused Shadowless Light)을 직각 구조로 통합하여, 하나의 촬영 세트로 다면 관찰이 가능하도록 지원합니다.

이는 기존의 회전형 검사 시스템을 대체하며, 메커니즘을 단순화하고 검사 효율성을 비약적으로 향상시키는 솔루션입니다.​​​​​​​

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                    [Chip Inspection_1]                                           [Chip Inspection_1]

 

■ 공작물의 상면과 측면을 하나의 조명 구조로 동시에 촬영할 수 있어, 복잡한 회전 메커니즘 없이 정밀 다면 검사 가능

■ 대상물을 회전시킬 필요가 없으므로, 구동부 설계가 단순화되고 기계 유지보수 및 초기 투자 비용 절감 가능

■ 동축 광원과 무영 조명이 각각의 위치에서 최적의 조도를 제공, 미세한 결함이나 입체 구조도 선명하게 시각화

■ 통합형 구조로 설치 공간이 작고, 검사 라인에 쉽게 통합 가능

 

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■ 동축 광원과 사각 무영광원을 직각으로 통합합니다.

 : ​​​​​​​상부와 측면을 동시에 조명하도록 설계되어, 하나의 검사 시스템에서 다면 이미지를 동시 확보할 수 있습니다.

■ 회전이 필요 없는 고정식 검사 방식을 지원합니다.

 : 기존 회전형 장비 대비 구조가 단순하여, 장비 안정성과 유지보수 효율성이 뛰어납니다.

■ 고품질 무영광으로 그림자 없는 조명을 제공합니다.

 : 사각 무영 조명은 대상물의 측면 및 복잡한 형상에 그림자 없이 고른 조명을 제공하여, 결함을 정확히 확인할 수 있습니다.

■ 다양한 산업용 카메라 및 렌즈와 호환됩니다.

 : 표준 마운트 규격에 맞춰 제작되어, 다양한 비전 시스템에 쉽게 적용 가능하며, 광학 설계에 유연성을 제공합니다.

■ 반도체 및 전자 부품 검사에 최적화되어 있습니다.

 : 작고 정밀한 대상물의 다면을 동시에 시각화함으로써, 고해상도 외관 검사와 자동화 라인 적용이 용이합니다.

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■ 적용 분야

• 반도체 칩 검사: 패키징된 칩의 상부 및 측면 외관 결함 동시 검사

• 입방체/직사각형 부품 검사: 금속, 플라스틱, 몰딩 부품 등 다면 구조 검사

• 정밀 전자 부품 검사: 커넥터, 단자, 마이크로부품의 측면 단차, 크랙 검출

• 3D 구조 검사: 사출물, 커버류, 하우징 등의 복합 면 형상 검사​​​​​​​

• 자동차 및 전장 부품 검사: 고정밀이 요구되는 커넥터류 및 블록 부품 검사 라인