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쌍측 검사용 선형 광원은 검사 대상의 좌우 양측면을 동시에 조사할 수 있도록 설계된 전문 광원 장비입니다.

선형 구조의 고휘도 LED 배열을 사용하여 긴 형상·연속 패턴 검사에 최적화되어 있으며, 좌우 동시 조명으로 대칭적이고 균일한 광 환경을 제공합니다.

이 장비는 특히 표면 스크래치, 균열, 단차, 이물질 등 미세 결함 검출에 탁월하며, 고속 검사 라인 및 자동화 비전 시스템에 손쉽게 통합할 수 있습니다.

 

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             [Glass Side Damage Inspection]                                                    [Sheets] 

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■ 좌우 균일 조명을 제공하여 그림자, 반사에 의한 결함 누락을 최소화합니다.

■ 긴 대상물이나 연속 공정 제품도 균일한 조도로 검사할 수 있습니다.

■ 장시간 사용에도 안정적이며, 에너지 효율과 수명을 동시에 확보했습니다.

■ 컴팩트한 구조와 표준 인터페이스를 갖추어 기존 비전 시스템에 쉽게 통합할 수 있습니다.

 

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■  양측 동시 조사 구조를 적용합니다.

  : 좌우에서 동시에 빛을 조사하여, 대칭적이고 균일한 검사 환경을 제공합니다.

■ 선형 LED 광원으로 긴 대상 검사를 지원합니다.

  : 선형 배열로 설계되어 대면적 또는 연속 길이의 대상물 검사에 적합합니다.

■ 균일 조도 확보로 안정적인 검사 품질을 보장합니다.

  : 고광 균일도의 LED 배열을 통해 검사 영역 전체에서 일정한 광세기를 유지합니다.

■ 다양한 설치 및 제어 옵션을 제공합니다.

  : 검사 장비 환경에 따라 길이·출력·파장 커스터마이징이 가능하며, 제어 시스템과도 유연하게 호환됩니다.

 

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■ 적용 분야

• 금속 가공품 검사: 표면 스크래치, 균열, 단차 확인

• 전자 부품 검사: 커넥터, PCB 가장자리, 모듈 외관 검사

• 필름 및 시트류 검사: 연속 롤 소재의 표면 결함 탐지

• 유리 및 플라스틱 기판 검사: 투명/반투명 소재의 이물질, 균열 검출

• 자동차 및 전장 부품 검사: 긴 형상의 하우징, 몰딩 부품 외관 검사