Multi-zone Combination Light Source

Multi-zone Combination Light Source

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상세 설명

 


 

다분구역 조합 광원은 하나의 장비에 여러 개의 발광 구역을 통합한 복합 조명 시스템으로, 검사 대상의 다양한 각도와 영역을 동시에 비추어 정밀한 외관 검사를 가능하게 합니다.

각 구역은 독립적으로 제어할 수 있어, 광량·조도·조사각을 다변화하여 복잡한 형상 및 고난도 결함 검출에 최적화된 광학 환경을 제공합니다.

특히 이 제품은 비전 검사 장비, 정밀 조립 라인, 반도체 및 전자부품 검사에 널리 적용되며, 기존 단일 조명으로는 확보하기 어려운 고대비·고정밀 이미지를 구현할 수 있습니다.

 


 

    

                                                         [Defect Detection]

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■ 각 발광 영역을 개별적으로 제어하여, 복합 구조물을 세밀하게 관찰 및 분석할 수 있습니다.

■ 구역별 렌즈 설계를 통해 광각·집광을 동시에 구현하여, 넓은 영역과 미세 영역 검사를 모두 지원합니다.

■ 그림자, 반사, 난반사 문제를 최소화해 표면 미세 결함 검출률을 극대화합니다.

■ 평면, 곡면, 복합 구조물 등 다양한 형상 검사에 활용 가능하며, 맞춤형 설계도 지원합니다.

■ 단일 세트로 다구역 검사를 지원하므로, 장비 설치·운영 효율성을 크게 높입니다.

 


 

■  다분구역 발광 구조를 적용합니다.

  : 여러 구역을 조합한 발광 방식으로, 다각도·다면 조명 효과를 구현합니다.

■  독립 제어형 조명 시스템을 지원합니다.

  : 각 구역은 광량·밝기·조사각을 별도로 설정할 수 있어, 대상 특성에 최적화된 조명 조건을 제공합니다.

■  고정밀 비전 검사에 최적화됩니다.

  : 복잡한 반사체, 미세 패턴, 표면 요철 검사에서도 선명한 대비와 고품질 이미지를 확보합니다.

■ 유연한 커스터마이징을 제공합니다.

  : 검사 대상 크기, 발광 파장, 렌즈 사양에 따라 다양한 맞춤형 설계가 가능합니다.

 


 

■ 적용 분야

  • 반도체 검사: 칩, 웨이퍼, 패키지 등 미세 패턴 및 표면 결함 검출

  • 전자 부품 검사: 커넥터, PCB, SMT 부품 외관 검사

  • 정밀 기계·금속 가공품 검사: 가공면 스크래치, 버어(Burr), 단차 검출

  • 자동차 및 전장 부품 검사: 하우징, 커버, 조립 부품의 외관 이상 확인

  • 광학·유리 검사: 편광판, 렌즈, 유리 기판의 스크래치 및 오염 검사