고광 링 무영 광원은 링 구조에 고휘도 LED를 균일하게 배열하여 그림자가 없는 조사 환경을 제공하는 머신비전 전용 조명 장치입니다.

특히 평면 조명과 비교했을 때 대상물의 표면 반사와 그림자를 최소화하며, 넓은 조사 범위와 높은 조도를 동시에 확보할 수 있습니다.

HAR 시리즈는 다양한 직경·파장 옵션을 갖추고 있어, 전자부품·반도체·정밀 가공품 검사뿐만 아니라 투명체 및 반투명체 검사에도 적합합니다.

    [Chip Mark Point Positioning​​​​​​​]                [Detection of Pull-Top Can​​​​​​​]          [Crystal Head Orientation Detection​​​​​​​]            [Character Inspection​​​​​​​]

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■ 그림자 발생을 억제하여 균일하고 일관된 검사 조건을 제공합니다.

■ 고광량 LED를 적용해 대면적·고속 검사 라인에도 대응할 수 있습니다.

■ 난반사와 불필요한 그림자를 제거해 선명하고 대비 높은 이미지 확보

■ 표준 링 구조 설계로 다양한 카메라와 렌즈에 쉽게 적용 가능합니다.

■ 무영 링 구조를 채택합니다.

  : 360도 균일 조사로 그림자 발생을 억제하여 정밀한 외관 검사가 가능합니다.

■ 고휘도 LED 배열을 적용합니다.

  : 고출력 LED를 링 구조에 최적화 배열하여 넓은 조사 면적과 높은 조도를 동시에 확보합니다.

■ 다양한 직경·파장대 옵션을 지원합니다.

  : 검사 대상 특성에 맞춰 직경 및 파장을 맞춤 선택할 수 있습니다.

■ 반사 및 투명 소재 검사에 유리합니다.

  : 난반사 억제와 균일 조명으로 금속, 유리, 플라스틱 등 다양한 소재 검사에 적합합니다.

■ 적용 분야

• 전자 부품 검사: 커넥터, 단자, PCB 표면 검사

• 반도체 검사: 칩, 웨이퍼, 패키지 외관 불량 검출

• 정밀 가공품 검사: 금속 표면의 스크래치, 버어(Burr), 단차 확인

• 투명/반투명 소재 검사: 유리, 렌즈, 플라스틱 부품의 표면 결함 탐지

• 인쇄 및 라벨 검사: 인쇄 불량, 표면 오염, 라벨 부착 상태 검사