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다분구역 광원은 하나의 링 광원을 여러 구역으로 분할 제어할 수 있도록 설계된 고정밀 비전 검사 조명 장치입니다.

검사 대상에 따라 각 구역의 밝기·조사각·출력을 독립적으로 조정할 수 있어, 기존 단일 링 조명으로는 확보하기 어려운 다각도·고대비 영상을 구현합니다.

특히 표면 반사체, 미세 구조, 다면 형상 검사에서 광원 제어의 유연성을 제공하여, 검사 정확도와 생산 효율성을 동시에 향상시킵니다.

 

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                              [Keyboard Keycap Surface Defect]                                                    [Capsule Blister Pack Surface Damage Inspection]

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                            [Leather Surface Defect Inspection]                                                        [Medicine Box Surface Embossing Inspection]

 

■ 각 세그먼트의 광량을 조절하여 대상물의 특정 부분을 선택적 강조 가능

■ 홈, 단차, 요철 등 다양한 형상에서도 최적의 조명 조건 제공

■ 반사체 검사에서 불필요한 빛을 줄이고 선명한 고대비 이미지 확보

■ 다양한 파장·직경 옵션과 표준 구조 설계로 머신비전 시스템에 손쉽게 통합

 

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​​​■ 다분구역 세그먼트 제어를 지원합니다.

  : 여러 개의 발광 구역을 개별 제어하여 다양한 검사 조건에 맞춘 조명 환경을 제공합니다.

■ 고휘도 LED 기반 균일광을 제공합니다.

  : 각 구역은 독립 제어되지만, 전체적으로 높은 광 균일성을 유지합니다.

■ 다각도 조사로 결함 검출 성능을 향상합니다.

  : 세그먼트 제어를 통해 특정 각도에서의 반사광을 제거하고 숨겨진 결함을 드러냅니다.

■ 맞춤형 파장·직경 옵션을 지원합니다.

  : 검사 대상 특성에 맞춰 파장대역 및 크기를 선택하거나 커스터마이징할 수 있습니다.

 

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■ 적용 분야

• 반도체 검사: 칩, 웨이퍼, 패키지의 표면 결함 및 단차 검사

• 전자 부품 검사: 커넥터, 단자, PCB 미세 구조 검출

• 정밀 가공품 검사: 금속 가공 흔적, 버어(Burr), 홈, 요철 검사

• 유리 및 플라스틱 소재 검사: 난반사 억제 및 표면 결함 탐지

• 자동차·전장 부품 검사: 블록형, 하우징류 복합 형상 검사