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자외선 광원은 UV 파장대(365nm, 385nm, 405nm 등)를 활용하여 육안이나 가시광 검사로는 확인하기 어려운 특수 결함 및 형광 반응을 탐지할 수 있는 조명 장치입니다.

특히 UV 파장은 재료의 표면·코팅·접착 상태에서 형광 반응을 유도하거나 미세 결함을 선명하게 드러내는 효과가 있습니다.

이로 인해 전자·반도체·의료·포장·위조 방지 분야에서 널리 사용되며, 정밀 검출 및 품질 관리에 최적화된 솔루션을 제공합니다.

 

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             [Lens Glue Defect]                                  [PCB Glue Integrity]                                 [Lens Glue Contour]                                 [Lens Glue Contour]   

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    [Instrument Housing Glue Defect]                [Car Horn Adhesive Defect]                          [LED Bead Bubble]                           [LCD Screen Glue Contour]

 

■ UV 광으로 소재에 형광을 유도하여 눈에 보이지 않는 결함 검출 가능

■ 미세 크랙, 오염, 접착 불량 등을 선명한 대비 이미지로 표현

■ 365nm, 385nm, 405nm 등 다양한 UV 파장을 선택할 수 있어 용도별 맞춤 적용 가능

■ 산업용 카메라·렌즈와 쉽게 결합되어 자동화 라인 적용이 용이

 

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■ UV 파장대 기반의 특수 조명을 제공합니다.

  : 가시광으로는 확인할 수 없는 미세 결함 및 형광 반응을 선명하게 드러냅니다.

■ 고휘도 UV LED를 적용합니다.

  : 짧은 파장에서도 안정적인 출력과 긴 수명을 보장합니다.

■ 다양한 파장대 및 출력 옵션을 지원합니다.

  : 검사 대상과 용도에 따라 맞춤형 파장·출력 조합을 구성할 수 있습니다.

■ 자동화 검사 라인에 쉽게 통합됩니다.

  : 표준 구조 설계로 머신비전 장비와의 호환성과 설치 편의성을 제공합니다.

 

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■ 적용 분야

• 반도체·전자 부품 검사: PCB, 칩, 패키지의 미세 크랙 및 오염 검출

• 형광 기반 검사: 코팅·접착 불량, 이물질 탐지

• 포장 및 인쇄 품질 검사: 위조 방지 마킹, 형광 잉크 검사

• 재료 과학 및 연구소: UV 형광 반응 실험, 표면 분석

• 의료·바이오 분야: 세포 관찰, 조직 분석 등 형광 활용