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다광 스펙트럼 광원은 단일 장치에서 다중 파장의 빛을 독립적으로 제어할 수 있는 고정밀 광원 시스템입니다.

검사 환경이나 대상 특성에 따라 다양한 파장(가시광, 적외선, 자외선 등)을 조합·전환할 수 있으며,

이는 단일 파장 광원으로는 식별이 어려운 색상, 재질, 내부 결함까지 효과적으로 검출할 수 있도록 합니다.

DRM 시리즈는 머신비전, 분광 분석, 정밀 재료 검사 등 고도화된 검사 환경에 최적화된 솔루션을 제공합니다.

 

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            [Green Light (525 nm)]                            [Far Red Light (730 nm)]                        [Blue Light (450 nm)]                             [Infrared (Peak 850 nm)]

 

            

        [Ultraviolet (Peak 405 nm)]                              [Amber (595 nm)]                                [Red Light (650 nm)]                                [White Light (6500K)]   

 

■ 검사 목적에 따라 다양한 파장을 전환하여 재질·색상·결함 특성에 최적화된 이미지 확보

■ 특정 파장대에서 결함이나 이물질을 강조하여 검사 신뢰성 향상

■ 전자, 반도체, 포장, 식품, 바이오 등 산업 전반에서 활용 가능

■ 파장, 출력, 조사각을 독립적으로 제어하여 복합적이고 유연한 조명 조건 구성 가능

 

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■ 다파장 광원 통합 설계를 적용합니다.

  : 하나의 장치에서 가시광, IR, UV 등 다양한 파장대 조명을 구현합니다.

■ 파장별 독립 제어가 가능합니다.

  : 파장별 출력과 조사 조건을 조절하여 다양한 검사 시나리오에 최적화할 수 있습니다.

■고대비 이미지 확보에 유리합니다.

  : 특정 파장으로 촬영 시 숨겨진 결함이나 소재 차이를 선명하게 강조합니다.

■ 다양한 맞춤형 옵션을 제공합니다.

  : 검사 목적에 맞춰 출력, 파장 조합, 조사각 등을 커스터마이징할 수 있습니다.

 

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■ 적용 분야

• 반도체 및 전자 검사: 칩, 웨이퍼, PCB 등 다파장 기반 결함 분석

• 디스플레이 검사: LCD, OLED 패널의 색상 균일성 및 불량 검출

• 식품·포장 검사: 인쇄 상태, 이물질 검출, 품질 관리

• 바이오·의료 분석: 세포, 조직 샘플의 다파장 이미지 분석

• 재료 과학 연구: 금속, 유리, 플라스틱 등의 스펙트럼 기반 특성 평가