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평행 동축 광원은 광학 미러(하프 미러)를 이용해 광축과 카메라 축을 일치시킨 구조로, 대상 표면을 정면에서 평행광으로 균일하게 조사하는 머신비전 전용 조명 장치입니다.

특히 표면의 반사·인쇄 패턴·미세 결함 검출에 최적화되어 있으며, 일반 조명으로는 확인하기 어려운 반사체·평면 소재 검사에서 탁월한 성능을 발휘합니다.

COXP2·COXP3·COXPL2 시리즈는 정밀 전자부품·반도체·인쇄 회로 기판(PCB)·유리 기판 등 고정밀 외관 검사 환경에 최적화된 솔루션을 제공합니다.

 

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        [Ceramic Surface Bubble]                     [Metal Surface Roughness]                   [Metal Plate Surface Scratch]                   [LCD Screen Surface Defect]

 

■ 표면 반사 영향 없이 균일한 조명 환경 제공

■ 미세 패턴, 인쇄 불량, 스크래치 등을 선명하게 검출

■ 전자, 반도체, 인쇄, 유리 등 다양한 산업군에서 활용

■ 크기, 출력, 파장, 조사각 등 고객 요구에 맞게 제작 가능

 

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■ 동축 광학 구조를 채택합니다.

  : 카메라 광축과 광원 축을 일치시켜 정면에서 균일한 평행광 조사가 가능합니다.

■ 반사체 및 평면 검사에 최적화됩니다.

  : 거울, 유리, 금속 등 반사율이 높은 소재도 안정적으로 검사할 수 있습니다.

■ 다양한 크기와 파장대 옵션을 지원합니다.

  : 검사 대상에 따라 적합한 파장·출력·광학 설계를 선택할 수 있습니다.

■ 정밀 외관 검출에 효과적입니다.

  : 미세 스크래치, 인쇄 불량, 패턴 결함을 고대비 이미지로 재현합니다.

 

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■ 적용 분야

• 반도체 검사: 웨이퍼, 칩 패키지, 표면 패턴 검사

• PCB 및 전자 부품 검사: 인쇄 패턴, 납땜 불량, 단선 탐지

• 정밀 가공품 검사: 금속 가공 흔적, 단차, 스크래치 확인

• 유리·플라스틱 검사: 표면 결함 및 오염 검출

• 인쇄·라벨 검사: 인쇄 상태 및 패턴 불량 확인