고해상도 동축 광원은 균일한 평행광을 동축 구조로 조사하여, 고해상도 카메라 기반의 정밀 검사 환경에 최적화된 조명 장치입니다.

COX3 시리즈는 일반 동축 광원보다 광 균일성과 평행도가 향상되어, 미세 패턴·인쇄 불량·스크래치와 같은 결함을 고대비 이미지로 정확히 검출할 수 있습니다.

특히 반사율이 높은 금속·유리 기판 및 PCB 검사에서 고정밀 외관 검출 성능을 발휘합니다.

                                       [Circuit Board Gap and Character]                                                                               [LCD Screen Mark Point]

■ 고균일 평행광 제공으로 고배율 카메라에서도 왜곡 없는 이미지 확보

■ 인쇄 패턴, 미세 스크래치, 오염까지 정밀하게 식별 가능

■ 유리, 금속, 플라스틱 등 난반사 환경에서도 안정적인 조명 제공

■ 크기, 파장, 출력 등 고객 검사 환경에 최적화된 설계 지원

■ 고균일·고평행도의 동축 구조를 채택합니다.

  : 정밀 영상 검사에서 필요한 균일 조도와 평행광 특성을 제공합니다.

■ 고해상도 카메라용으로 최적화되었습니다.

  : 고배율·고해상도 렌즈와 결합해도 선명한 이미지 품질을 유지합니다.

■ 다양한 파장 및 크기 옵션을 지원합니다.

  : 가시광·적외선·자외선 등 파장대 선택 가능하며, 맞춤형 제작 지원이 가능합니다.

■ 장시간 안정적인 성능을 보장합니다.

  : 발열과 출력 변동을 최소화하여 지속적인 정밀 검사 품질 확보가 가능합니다.

■ 적용 분야

• PCB 검사: 인쇄 패턴, 납땜 불량, 단선·단락 탐지

• 반도체 검사: 칩, 웨이퍼, 패키지 표면 미세 결함 검출

• 정밀 가공품 검사: 금속 가공 흔적, 미세 요철, 스크래치 검사

• 유리 및 플라스틱 소재 검사: 표면 결함 및 오염 확인

• 인쇄 및 디스플레이 검사: 인쇄 품질 및 색상 불량 검출